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【原创设计】TRL微波器件测量去嵌入校准–程序代码

前期已经给大家讲解了经典TRL去嵌入的算法原理、夹具设计和实验验证,此处补充分享个人测试数据处理程序,供研究和教学之用。

【原创教程】TRL微波器件测量去嵌入校准–实验测试

采用测量夹具得到数据必然包含夹具对待测件(DUT)的影响,为得到器件的真实S参数,必须通过校准去除该影响(通常称为去嵌入)。校准算法的功能是将测量由夹具两端测量参考面搬移到DUT两端的校准参考面,实现DUT的直接测量。

【原创设计】TRL微波器件测量去嵌入校准–夹具设计

微波电路设计中,经常需要测量微波器件的S参数,由于矢量网络分析仪只能测量待测接口与测量端口一致的部件,如同轴端口,波导端口等,所以需要单独制作夹具。夹具设计一方面用于器件固定,如贴片型电容、电感等,另一方面实现测试接口转换。

【原创教程】TRL微波器件测量去嵌入校准–原理详解

该教程是本人2012年跟安捷伦工程师讨论微波器件去嵌入技术时准备的,当时讨论主题如何解决TRL去嵌入算法频率限制问题,现在摘取其中TRL算法原理部分,重新整理与大家分享。

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